DSpace
 

DSpace of Korolenko Poltava National Pedagogical University >
Факультети та кафедри >
Факультети >
Факультет Психології і соціальної роботи >
Кафедра психології >
Матеріали наукових конференцій та семінарів >
Психологія розвитку та життєстійкості особистості: виклики та нові можливості (2025) >

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://dspace.pnpu.edu.ua/handle/123456789/27849

Назва: Вплив тривожності на професійне становлення здобувачів вищої освіти
Автори: Алямкін, Р.В.
Ключові слова: студент
тривожність
психіка
емоційний стан
Дата публікації: 2025
Короткий огляд (реферат): Тривожність є поширеною проблемою серед студентів вищих навчальних закладів, істотно впливаючи на різні аспекти їхньої академічної успішності. За даними опитувань, близько 24% студентів повідомляють, що тривожність негативно вплинула на їхні навчальні результати. Багато вищих навчальних закладів відзначають, що тривожність випереджає навіть депресію як головну причину звернень до психологічних служб. Вивчаючи літературні джерела можна відмітити, що у вітчизняних дослідженнях досі не існує єдиної концепції при тлумаченні поняття «тривога» та «тривожність».
Опис: Алямкін Р. В. Вплив тривожності на професійне становлення здобувачів вищої освіти // Психологія розвитку та життєстійкості особистості: виклики та нові можливості : зб. наук. матеріалів Міжнар. наук.-практ. конф. до 110-річчя Полтавського національного педагогічного університету імені В. Г. Короленка, 24-25 квітня 2025 р. Полтава : ПНПУ, 2025. С. 4-9.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://dspace.pnpu.edu.ua/handle/123456789/27849
Розташовується у зібраннях:Психологія розвитку та життєстійкості особистості: виклики та нові можливості (2025)

Файли цього матеріалу:

Файл Опис РозмірФормат
1.pdf156,3 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити
Перегляд статистики

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.

 

Valid XHTML 1.0! Програмне забезпечення DSpace Авторські права © 2002-2005 Массачусетський технологічний інститут та Х’юлет Пакард - Зворотний зв’язок